Questo esempio considera un test su un dispositivo elettrico quali un interruttore/relè.
In certe condizioni, quando il segnale sinusoidale è prossimo allo zero, la forte di/dt non permette al test di raccogliere risultati validi e a tutti gli effetti il test fallisce. Vogliamo stimare la probabilità che il test fallisca quando applicato ad una campionatura di 10 unità.
Video informativo su come stimare la vita media di un prodotto sulla base di dati ottenuti dal campo.
Analisi di garazia di diverse motociclette con stima dei rientri mediante distribuzione di utilizzo della moto e calcolo del kilometraggio accumulato dalle unità ancora circolanti che non hanno manifestato guasti.
Le analisi di affidabilità secondo il metodo della predizione sono molto comuni in ambito militare. Questo è dovuto sia perché sono prescritte da specifiche basate su standard di impostazione militare sia perché, in molti casi, analisi alternative sono un po’ problematiche da applicare.
In un’analisi di affidabilità esistono diverse tipologie di dati che devono essere gestiti correttamente. Raramente in un calcolo affidabilistico si avrà a che fare con soli guasti a meno che non si analizzino dati provenienti da prove interne che non sono state interrotte (Time terminated o Failure terminated).
Quasi sicuramente si incontreranno dati sospesi o dati incompleti.
Nella stragrande maggioranza dei casi le sospensioni
Uno dei problemi più diffusi nell’ambito dell’ingegneria industriale è trovare la relazione che vige tra dei risultati che si vorrebbero perseguire e i fattori che li influenzano. Questo articolo presenta i concetti base del DOE e come può diventare strumento essenziale di progettazione e ottimizzazione di processi all’interno della propria organizzazione.
Reliability Prediction è nata come uno dei mattoni di quello che sarebbe diventato successivamente il processo DFR o Design For Reliability.
Nata come metodo di paragone tra due o più soluzioni proposte in una fase di progetto quando era ancora possibile cambiare le soluzioni.
Tuttavia è successivamente diventata un metodo di calcolo effettivo dell’affidabiltà o meglio del MTBF di scheda elettroniche.
